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光学测厚仪

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2、光学薄膜测厚仪的核心技术介绍和原理说明:SpectraThick系列的特点在于其非接触式、非破坏性的测量方式,无需对样品进行任何预处理。该系列仪器支持Windows操作系统,操作简便。ST系列专门用于测量wafer、glass等基片上形成的氧化膜、氮化膜、光刻胶等非金属薄膜的厚度。

3、厚度仪:这是专门用于测量厚度的仪器,根据工作原理不同有超声厚度仪、磁性厚度仪等。超声厚度仪通过超声波在材料中的传播时间来测量厚度,可测各种材料;磁性厚度仪适用于测量磁性基体上非磁性涂层的厚度。

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