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- 1、光学测厚仪
光学测厚仪
Ametek（阿美特克）：美国品牌重庆扫描色差仪报价，提供包括在线和离线类型在内的各种类型的测厚仪重庆扫描色差仪报价，满足不同用户的需求。Flir（费勒尔）：美国品牌，其红外测厚仪非常著名，适用于需要非接触式测量的场景。ZEISS（蔡司）：德国品牌，以其出色的光学测厚仪而闻名，适用于对精度要求极高的测量任务。
光学薄膜测厚仪的核心技术介绍和原理说明：SpectraThick系列的特点在于其非接触式、非破坏性的测量方式，无需对样品进行任何预处理。该系列仪器支持Windows操作系统，操作简便。ST系列专门用于测量wafer、glass等基片上形成的氧化膜、氮化膜、光刻胶等非金属薄膜的厚度。
厚度仪：这是专门用于测量厚度的仪器，根据工作原理不同有超声厚度仪、磁性厚度仪等。超声厚度仪通过超声波在材料中的传播时间来测量厚度，可测各种材料重庆扫描色差仪报价；磁性厚度仪适用于测量磁性基体上非磁性涂层的厚度。
光学薄膜测厚仪 (SpectraThick Series) 的核心技术介绍和原理说明 SpectraThick series的特点是非接触， 非破坏方式测量，无需样品的前处理，软件支持Windows操作系统等。ST series是使用可视光测量wafer，glass等substrates上形成的氧化膜，氮化膜，Photo-resist等非金属薄膜厚度的仪器。
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